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Les tests d’E/S de base de l’appareil effectuent des tests d’E/S de base sur les appareils spécifiés.
Tests d’E/S
| Essai | Descriptif |
|---|---|
Entrées/Sorties de périphérique |
Ce test effectue des tests d’E/S de base sur les appareils. Binaire de test : Devfund_Device_IO.wsc Méthode de test : DeviceIO Paramètres : - voir Paramètres de test de base de l’appareil DQ TestCycles IOPeriod IOType |
Test de contrainte d’E/S simple avec arrêt du processus d’E/S |
Ce test effectue des tests d’E/S simples sur les appareils dans un processus distinct et met fin au processus d’E/S après la période d’E/S et les cycles de test spécifiés. Binaire de test : Devfund_SimpleIoStress_TermIoProc.wsc Méthode de test : SimpleIOStress_TermIoProc Paramètres : - voir Paramètres de test de base de l’appareil DQ TestCycles IOPeriod |
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