Device Fundamentals の再起動テストでは、指定されたデバイス、前後、またはシステムの再起動中に I/O が実行されます。
テストを再起動する
| Test | Description |
|---|---|
I/O を使用した重大な再起動の前後 |
このテストでは、重要なシステム再起動の前後にデバイスで I/O を実行します。 Test binary: Devfund_Critical_RebootRestart_With_IO_BeforeAndAfter.wsc Test method: Critical_Reboot_Restart_With_IO_Before_And_After Parameters: - see Device Fundamentals Test Parameters DQ IOPeriod |
I/O を使用した重大な再起動の再起動 |
このテストでは、デバイスで Simple I/O を開始し、I/O を実行して重要な再起動を開始し、再起動後に SimpleI/O をもう一度実行します。 Test binary: Devfund_Critical_RebootRestart_With_IO_During.wsc Test method: Critical_Reboot_Restart_With_IO_During Parameters: - see Device Fundamentals Test Parameters DQ |
前後の I/O で再起動する |
このテストでは、システムの再起動の前後にデバイスで I/O を実行します。 Test binary: Devfund_RebootRestart_With_IO_BeforeAndAfter.wsc Test method: Reboot_Restart_With_IO_Before_And_After Parameters: - see Device Fundamentals Test Parameters DQ IOPeriod |
再起動中に I/O を使用して再起動する |
このテストでは、デバイスで Simple I/O を開始し、I/O を実行して再起動を開始し、再起動後に SimpleI/O をもう一度実行します。 Test binary: Devfund_RebootRestart_With_IO_During.wsc Test method: Reboot_Restart_With_IO_During Parameters: - see Device Fundamentals Test Parameters DQ |
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