NVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG结构（nvme.h）

包含一个字段，用于指定设备自测试日志页中的信息，用于描述设备自测的状态、完成百分比和结果。

此结构由“获取日志页”命令返回。 有关详细信息，请参阅 NVME_CDW10_GET_LOG_PAGE。

Syntax

typedef struct {
  struct {
    UCHAR Status : 4;
    UCHAR Reserved : 4;
  } CurrentOperation;
  struct {
    UCHAR CompletePercent : 7;
    UCHAR Reserved : 1;
  } CurrentCompletion;
  UCHAR                             Reserved[2];
  NVME_DEVICE_SELF_TEST_RESULT_DATA ResultData[20];
} NVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG, *PNVME_DEVICE_SELF_TEST_LOG;

Members

CurrentOperation

CurrentOperation 结构，包含描述当前设备 Self-Test作的字段。

CurrentOperation.Status

指示当前设备 Self-Test作的状态。

CurrentOperation.Reserved

CurrentOperation 结构中的保留字段。

CurrentCompletion

CurrentCompletion 结构，包含描述设备 Self-Test作完成的字段。

CurrentCompletion.CompletePercent

指示设备 Self-Test作完成百分比。 如果 CurrentOperation.Status 字段为非零，则此字段有效。

CurrentCompletion.Reserved

CurrentCompletion 结构中的保留字段。

Reserved[2]

保留字段。

ResultData[20]

一个由 20 个NVME_DEVICE_SELF_TEST_RESULT_DATA 结构构成的数组，其中包含最近 20 个设备 Self-Test作的结果数据，按最新到最旧可用的顺序排序。

要求