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CPU 壓力測試(裝置基本概念)

CpuStress 測試會使用不同的處理器使用率等級來執行裝置 I/O 測試。

CPU壓力

測試 描述

以交替處理器使用率層級進行的 裝置 I/O

此測試會執行裝置 I/O 測試,同時在高 (HPU) 和低 (LPU) 處理器使用率等級之間交替。

測試二進位檔: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc

測試方法: Device_IO_With_Varying_ProcUtil

參數: - 請參閱 裝置基本概念測試參數

DQ

PingPongPeriod

HPU

LPU

測試周期

具有固定處理器使用率等級的裝置 I/O

此測試會執行裝置 I/O 測試,並將處理器使用率 (PU) 層級設定為固定百分比。

測試二進位檔: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc

測試方法: Device_IO_With_Fixed_ProcUtil

參數: - 請參閱 裝置基本概念測試參數

DQ

IOPeriod

PU

具有固定處理器使用率等級的裝置 PNP

此測試會執行裝置 PNP 測試,並將處理器使用率 (PU) 層級設定為固定百分比。

測試二進位檔: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc

測試方法: Device_PNP_With_Fixed_ProcUtil

參數: - 請參閱 裝置基本概念測試參數

DQ

測試周期

PU

使用固定處理器使用率 睡眠

此測試會使系統進入各種睡眠狀態,並將處理器利用率設定為固定百分比。

測試二進位檔: Devfund_ProcUtil_PingPong_With_IO.wsc

測試方法: Sleep_With_Fixed_ProcUtil

參數: - 請參閱 裝置基本概念測試參數

測試周期

PU

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